A symmetric or asymmetric multilayer structure based on the technique of surface plasmon resonance (SPR) has been applied for modulation of resonant angle and wavelength. The fabrication of this invention can have nanoscale thin film layers up to several hundreds, while each layer has its own material of a high or low refractive index value, and the total layers in a thickness of tens to hundreds nanometers are grown in this single structure. This invention is intended for optimizing the scanning of mechanism by modulating SPR resonant angle and wavelength, and for developing the prospect of portable instruments.

PURPOSE:To measure the thickness of a transparent substance easily, correctly and quickly by collecting both of the linear penetrating light and the forward scattering light from the transparent substance and measuring the transmitting spectrum. CONSTITUTION:Transparent flakes are arranged on a transparent substrate in such a way that the faces thereof are approximately parallel to the substrate. Or, a transparent substance of a thin film with a crack is formed on the transparent substrate. In the measuring method to measure the transmitting spectrum of light by projecting light to the substance, both of the linearly transmitted light and the forward scattering light from the substance are collected thereby to measure the transmitting spectrum. It is simple and effective to collect the forward scattering light to use also an integrating sphere for a photodetector. In general, an object is tightly held in touch with the window of the integrating sphere at the measuring time. However, the measuring method does not require this, and the object may be set at a position where most of the scattering light from the flakes enters the integrating sphere. A detector with a photodetecting surface of a large area may be used, instead of the integrating sphere.

A detection method for detecting heading (H) based on sensor data of a radar sensor (3) is provided. The radar sensor (3) provides sensor data in form of a range (R) to range rate (r) spectrum. Two clusters (C1, C2) of spectrum cells (Si) or recognition points (Pi) are determined. The spectrum cells or recognition points of a first cluster (C1) and a second cluster (C2) have an intensity value. The spectrum cells or recognition points of the first cluster (C1) are arranged on a first linear stretch (st1). The spectrum cells or recognition points of the second cluster are arranged on a second linear stretch (st2). A first slope gradient (g1) is determined for the spectrum cells or recognition points in the first cluster (C1). A second slope gradient (g2) is determined for the spectrum cells or recognition points in the second cluster (C2). L'invention concerne un procédé de détection pour détecter un cap (H) sur la base de données de capteur d'un capteur radar (3). Le capteur radar (3) fournit des données de capteur sous la forme d'un spectre d'une plage (R) à une fréquence de portée (r). Deux groupes (C1, C2) de cellules spectrales (Si) ou de points de reconnaissance (Pi) sont déterminés. Les cellules spectrales ou les points de reconnaissance d'un premier groupe (C1) et d'un second groupe (C2) ont une valeur d'intensité. Les cellules spectrales ou les points de reconnaissance du premier groupe (C1) sont agencés sur un premier étirement linéaire (st1). Les cellules spectrales ou les points de reconnaissance du second groupe sont agencés sur un second étirement linéaire (st2). Un premier gradient de pente (g1) est déterminé pour les cellules spectrales ou les points de reconnaissance dans le premier groupe (C1). Un second gradient de pente (g2) est déterminé pour les cellules spectrales ou les points de reconnaissance dans le second groupe (C2).

A symmetric or asymmetric multilayer structure based on the technique of surface plasmon resonance (SPR) has been applied for modulation of resonant angle and wavelength. The fabrication of this invention can have nanoscale thin film layers up to several hundreds, while each layer has its own material of a high or low refractive index value, and the total layers in a thickness of tens to hundreds nanometers are grown in this single structure. This invention is intended for optimizing the scanning of mechanism by modulating SPR resonant angle and wavelength, and for developing the prospect of portable instruments.

A millimeter-wave/terahertz-wave imaging apparatus (100), and an inspection method for a body or an object. The imaging apparatus comprises: a quasioptical assembly comprising a rotating polygon mirror (1) and a fourth reflector (7), wherein the rotating polygon mirror (1) is capable of rotating about a rotating axis (o) thereof, such that multiple reflectors on the rotating polygon mirror (1) alternately serve as a first reflector (1A) and receive and reflect a millimeter-wave/terahertz-wave beam from a first object under inspection (31A), and another reflector of the multiple reflectors that is adjacent to the first reflector (1A) serves as a second reflector (1B) and receives and reflects a millimeter-wave/terahertz-wave beam from a second object under inspection (31B); and a chopper (8) configured to only allow either a beam from the first reflector (1A) or a beam reflected by the fourth reflector (7) from the second reflector (1B) to be incident on a detector array (2), the chopper (8) rotating around a center axis (81) thereof, such that the detector array (2) alternately receives a beam from the first reflector (1A) or from the second reflector (1B). The apparatus achieves simultaneous imaging of two objects under inspection, thereby achieving high inspection efficiency, and a high detector utilization rate. L'invention concerne un appareil d'imagerie à ondes millimétriques/ondes térahertz (100) et un procédé d'inspection d'un corps humain ou d'un objet. L'appareil d'imagerie comprend : un ensemble quasi-optique comprenant un miroir polygonal rotatif (1) et un quatrième réflecteur (7), le miroir polygonal rotatif (1) pouvant tourner autour d'un axe de rotation (o) de celui-ci, de telle sorte que de multiples réflecteurs sur le miroir polygonal rotatif (1) servent alternativement de premier réflecteur (1A) et reçoivent et réfléchissent un faisceau d'ondes millimétriques/ondes térahertz provenant d'un premier objet soumis à l'inspection (31A) et un autre réflecteur des multiples réflecteurs qui est adjacent au premier réflecteur (1A) serve de deuxième réflecteur (1B) et reçoive et réfléchisse un faisceau d'ondes millimétriques/ondes térahertz à partir d'un second objet soumis à l'inspection (31B) ; et un hacheur (8) configuré pour uniquement permettre que soit un faisceau provenant du premier réflecteur (1A) soit un faisceau réfléchi par le quatrième réflecteur (7) depuis le deuxième réflecteur (1B) soit incident sur un réseau de détecteurs (2), le hacheur (8) tournant autour d'un axe central (81) de celui-ci, de telle sorte que le réseau de détecteurs (2) reçoive en alternance un faisceau provenant du premier réflecteur (1A) ou du deuxième réflecteur (1B). L'appareil réalise une imagerie simultanée de deux objets soumis à l'inspection, ce qui permet d'obtenir une efficacité d'inspection et un taux d'utilisation de détecteur élevés. 一种毫米波/太赫兹波成像设备（100）及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件，包括多面体转镜（1''）和第四反射板（7），多面体转镜（1''）能够绕其转动轴线（o）转动，以使得多面体转镜（1''）上的多个反射板轮流用作第一反射板（1A）接收并反射来自第一被检对象（31A）的毫米波/太赫兹波波束；多个反射板中的与第一反射板（1A）相邻的另一反射板用作第二反射板（1B）接收并反射来自第二被检对象（31B）的毫米波/太赫兹波波束；斩波器（8），被配置成在任一时刻仅来自第一反射板（1A）或第四反射板（7）反射的来自第二反射板（1B）的波束入射到探测器阵列（2），斩波器（8）绕其中心轴线（81）转动以使来自第一反射板（1A）和第四反射板（1B）的波束交替地由探测器阵列（2）接收。该设备能够对两个被检对象同时成像，检测效率高、探测器利用率高。

本发明提供了一种多轴电容式加速度计及加速度检测方法，所述多轴电容式加速度计的Z轴加速度计的两个Z轴结构层分别放置于XY轴加速度计两侧，该结构可减小封装形变引起的误差，从而提高多轴电容式加速度计的灵敏度。

一种新型活塞式多点伸长测量计，是由测量仪器 采用改装后的机械式百分表，测点连接采用不锈钢 杆，测点锚固采用注塞式结构，以水泥加沙为锚固材 料；其中测杆只在锚头外与测头内；锚固头采用活塞 式锚头。 端头可见五个孔，中间孔为安装杆15穿行用，四 周对称布置四个孔，为四个测点的测孔。测孔里面是 固定的保护套管5，套管中是带有测头的测杆12。 安装操作简单，测量简便可靠。

为了从一个半导体晶片中制造大量的传感器，在本发明中扩散电阻被置于传感器的侧面。通过在传感器的侧面上提供位移检测装置，通过较少的制造工序就可以获得高精密度低成本的传感器，而无须蚀刻工序。而且，可以提供较好成品率的包括半导体加速度传感器的半导体器件。