本发明公开一种半导体元件加速老化测试系统，包括中控模块及分别通过通用控制总线与其通讯连接的HAST实验箱和多路数据采集模块，所述HAST试验箱包括高温湿度试验箱及其内部的待测元件载板，待测元件焊接于载板上，配合HAST实验箱信号输出至多路信号适配板，由多路信号适配板连接多路数据采集模块。本系统适用于各类半导体元件的HAST试验检测可靠性测试实验，能够对贴片封装和接插元件模拟实际焊接条件下使用寿命进行验证。中控模块的自主开发控制程序可设定HAST试验箱温湿度实验条件，还可设定电源模块加载在待测半导体元件的电压，即时的记录多路数据采集模块传输的数据，同时可对数据进行分析导出伏安特性图标，以便实验技术人员分析比对。

本实用新型公开了一种双向测量涡轮流量计，包括壳体、叶轮、放大整流器和仪表，叶轮包括转轴和叶片，转轴上安装有导磁棒，导磁棒与转轴的两端平齐，壳体内设有计量腔，计量腔的顶部和底部对称开设有轴孔，并通过轴孔将叶轮转动连接在计量腔内，两个轴孔内对称开设有磁体固定槽，磁体固定槽与导磁棒位置适配，上下两个磁体固定槽内分别安装有第一磁体和第二磁体，并且第一磁体与第二磁体相对的端面磁极相反，第一磁体的外周环绕有感应线圈，所述感应线圈与放大整流器的输入端电连接，放大整流器的输入端与仪表电连接，本实用新型能够避免流量计内部与感应线圈配合的磁体在转动时受到冲击振动，进而能够避磁体消磁导致的流量监测误差大的问题。

本发明属于一种粮食检验仪器，尤其是指一种测量小麦硬度的设备。其按照本发明所提供的设计方案，在转轴上安装转子，在转子的外表面设置磨刀，在外壳上安装外刀盘，在外刀盘的内壁同样设置磨刀，转子与外刀盘配合成一对研磨副，在研磨副的左上方设置进料斗，进料斗的料道与研磨副连通，在研磨副的下面设置筛网。在外壳上设置安全触点开关；在可拆卸筛网的下面设置接料斗；在研磨副的外侧利用安装于外壳上的铰链座及插销铰接端盖，在对应于铰链座另一侧的端盖上安装用于锁定或打开端盖的手把。利用本装置可以快速测定小麦的硬度等性能指数。