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基本信息

摘要:为了从一个半导体晶片中制造大量的传感器,在本发明中扩散电阻被置于传感器的侧面。通过在传感器的侧面上提供位移检测装置,通过较少的制造工序就可以获得高精密度低成本的传感器,而无须蚀刻工序。而且,可以提供较好成品率的包括半导体加速度传感器的半导体器件。

摘要附图: