A dynamic or quasi-dynamic force detection apparatus and method, said apparatus specifically including a base plate (101), a piezoelectric sensing module (102) and a signal analysis module (103). The base plate (101) is used for producing an elastic wave signal according to a touch. The piezoelectric sensing module (102) is connected to the base plate (101), and is used for converting the elastic wave signal into a voltage signal. The signal analysis module (103) is connected to the piezoelectric sensing module (102), and is used for calculating, according to the voltage signal, a fluctuation change value of the voltage signal and calculating, according to the fluctuation change value, force information produced by the touch. The dynamic or quasi-dynamic force detection apparatus and method provide valid three-dimensional force information, are simple in structure, have wide applicability, and may be used in fields such as virtual keyboards, automobile electronics, smart homes, robots and aerospace. La présente invention concerne un appareil et un procédé de détection de force dynamique ou quasi-dynamique, ledit appareil comprenant spécifiquement une plaque de base, un module de détection piézoélectrique et un module d'analyse de signal. La plaque de base est utilisée pour produire un signal d'onde élastique selon un toucher. Le module de détection piézoélectrique est raccordé à la plaque de base, et est utilisé pour convertir le signal d'onde élastique en un signal de tension. Le module d'analyse de signal est raccordé au module de détection piézoélectrique, et est utilisé pour calculer, en fonction du signal de tension, une valeur de changement de fluctuation du signal de tension et calculer, en fonction de la valeur de changement de fluctuation, des informations de force produites par le toucher. L'appareil et le procédé de détection de force dynamique ou quasi-dynamique fournissent des informations de force tridimensionnelle valides, présentent une structure simple, ont une large applicabilité, et peuvent être utilisés dans des domaines tels que les claviers virtuels, l'électronique automobile, les maisons intelligentes, les robots et l'aérospatiale. 一种动态或准动态力度检测装置及方法，传感装置具体包含基板（101）、压电传感模块（102）和信号分析模块（103）；基板（101）用于根据触碰产生弹性波信号；压电传感模块（102）与基板（101）相接，用于将弹性波信号转换为电压信号；信号分析模块（103）与压电传感模块（102）相连，用于根据电压信号计算获得电压信号的波动变化值，根据波动变化值计算获得触碰产生的力度信息。通过该动态或准动态力度检测装置及方法可提供有效的三维力度信息，同时结构简单，适用性广，可应用于虚拟键盘、汽车电子、智能家居、机器人、航空航天等领域。

A system (1) for measuring a curved surface of a transparent or translucent material comprises a surface treatment device (10), a three-dimensional measurement device (20) and a second conveyance device. The surface treatment device (10) is used to frost or mist a surface of a transparent or translucent material to form a frosted or foggy surface, that is, frost or fog is uniformly formed on the surface of the transparent or translucent material. The three-dimensional measurement device (20) is used to perform three-dimensional measurement of the frosted or foggy surface of the transparent or translucent material to obtain measured data. The second conveyance device is used to convey the material with the frosted or foggy surface to the three-dimensional measurement device (20). L'invention concerne un système (1) permettant de mesurer une surface incurvée d'un matériau transparent ou translucide comprenant un dispositif de traitement de surface (10), un dispositif de mesure tridimensionnelle (20) et un second dispositif de transport. Le dispositif de traitement de surface (10) est utilisé pour givrer ou embuer une surface d'un matériau transparent ou translucide afin de former une surface givrée ou embuée, c'est-à-dire que le givre ou la buée sont uniformément formées sur la surface du matériau transparent ou translucide. Le dispositif de mesure tridimensionnelle (20) est utilisé pour effectuer une mesure tridimensionnelle de la surface givrée ou embuée du matériau transparent ou translucide afin d'obtenir des données mesurées. Le second dispositif de transport est utilisé pour transporter le matériau à surface givrée ou embuée vers le dispositif de mesure tridimensionnelle (20). 一种用于透明或半透明材料曲面的测量系统（1），包括：表面处理装置（10）、三维测量装置（20）和第二传送装置；表面处理装置（10）用于对透明或半透明材料的表面进行霜化或雾化，形成霜化或雾化表面，即在透明或半透明材料的表面形成均匀的霜或雾；三维测量装置（20）用于对霜化或雾化后的透明或半透明材料的表面进行三维测量，从而获取测量数据；第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到三维测量装置（20）。

A method and means for determining the thickness, or curvature, of a thin film or stack of thin films disposed on the surface of a substrate having a curvature comprising generating a beam of radiation, focusing the beam through the one or more films onto a surface of the substrate, measuring the intensity across the reflected beam as a function of the angle of incidence of a plurality of rays derived from the focussed beam, determining the path of each of the plurality of rays and determining the thickness, or curvature of the film, or films, from the angular dependent intensity measurement. L'invention concerne un procédé et des moyens permettant de déterminer l'épaisseur ou la courbure d'une couche mince ou d'un empilement de couches minces disposées sur la surface d'un substrat présentant une courbure, comprenant la génération d'un faisceau de rayonnement, la focalisation du faisceau à travers lesdites une ou plusieurs couches sur une surface du substrat, la mesure de l'intensité à travers le faisceau réfléchi en fonction de l'angle d'incidence d'une pluralité de rayons provenant du faisceau focalisé, la détermination de la trajectoire de chaque rayon de la pluralité de rayons et la détermination de l'épaisseur ou de la courbure de la couche ou des couches à partir de la mesure d'intensité dépendant de l'angle.

A method and means for determining the thickness, or curvature, of a thin film or stack of thin films disposed on the surface of a substrate having a curvature comprising generating a beam of radiation, focusing the beam through the one or more films onto a surface of the substrate, measuring the intensity across the reflected beam as a function of the angle of incidence of a plurality of rays derived from the focussed beam, determining the path of each of the plurality of rays and determining the thickness, or curvature of the film, or films, from the angular dependent intensity measurement.

A sensor (10) preferably capable of high resolution sensing over a large operating range includes a composite diaphragm (12) containing nanotubes or nanowires (14). The nanotubes or nanowires (14) preferably form a mat that is embedded in insulating material (16, 18), such as high dielectric or insulating thin films. The nanotubes or nanowires (14) may provide the diaphragm (10) with a Young's modulus of greater than about 1000 GPa and a tensile strength of greater than about 100 GPa. The strain in the nanotubes or nanowires (14) may be measured by a change in resistance, voltage, current or capacitance. Selon l'invention, un détecteur (10) permettant de préférence une détection haute résolution sur une plage de fonctionnement importante comprend un diaphragme composite (12) contenant des nanotubes ou des nanofils (14). Ceux-ci (14) forment de préférence un tapis incorporé dans un matériau d'isolation (16, 18), tel que des films minces d'isolation ou à diélectrique élevé. Les nanotubes ou les nanofils (14) peuvent apporter au diaphragme (10) un module de Young supérieur à environ 1000 GPa et une résistance à la traction supérieure à environ 100 GPa. La contrainte dans les nanotubes ou les nanofils (14) peut être mesurée par un changement de résistance, tension, courant ou capacité.

1,153,574. Radioactivity counting arrangements. UNITED KINGDOM ATOMIC ENERGY AUTHORITY. Aug.25, 1966 [Aug.13, 1965; Dec.6, 1965], Nos.34885/65 and 51724/65. Heading G1A. An arrangement for handling pulses from a nuclear particle detector comprises an input capacitor (which may be the detector) across which signal pulses are developed in response to detected particles, a light reponsive semi-conductor connected so as to apply discharging current to the capacitor and a light emitting semi-conductor arranged to illuminate the light responsive semiconductor with a flash of light in response to an energizing signal. Pulses from a solid-state capacitor type of detector 10 due to the incidence of nuclear particles or γ-rays are fed via a capacitor 14 and a gate 15 to an integrator 18. Normally the gate 15 and a switch 17 are both closed so that the input to the gate is held at a substantially constant potential despite drift in the detector output. When a pulse occurs the discrimator responds to open gate 15 and allow the pulse to pass to integrator 18. The discriminator then sends a signal to a discriminator 12 which samples the output of amplifier 11 and energizes a GaAs diode 23 to produce a propotionate amount of light. Some of this light is received by a photo-diode 22 which sends a corresponding pulse of current to the detector 10 just sufficient to discharge it. At the same time the pulse shaper 13 is inhibited by a signal from discriminator 19 so that the gate 15 is not opened in response to the discharge pulse from detector 10.

A sensor preferably capable of high resolution sensing over a large operating range includes a composite diaphragm containing nanotubes or nanowires. The nanotubes or nanowires preferably form a mat that is embedded in insulating material, such as high dielectric or insulating thin films. The nanotubes or nanowires may provide the diaphragm with a Young's modulus of greater than about 1000 GPa and a tensile strength of greater than about 100 GPa. The strain in the nanotubes or nanowires may be measured by a change in resistance, voltage, current or capacitance.