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基本信息

摘要:本发明提供了一种CZT半导体活度计以及活度测量装置,涉及医疗器械领域,CZT半导体活度计包括壳体、CZT探测头、封装基板和处理模块,CZT探测头设置在壳体的一端,封装基板设置在壳体的中部并与壳体的内壁相抵接,CZT探测头与封装基板的一侧连接,封装基板的另一侧与壳体的内壁共同形成一封装内腔,处理模块容置在封装内腔中并与封装基板连接。相较于现有技术,本发明提供的一种CZT半导体活度计,体积小,操作方便,检测时无需人为控制,并且能够在室温下使用。

摘要附图: