基本信息
摘要：Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen von Dickschichtwiderständen zur Widerstandsanpassung über einen passiven Laserabgleich. Hierzu sind auf der Vorrichtung Kontaktnadeln angeordnet, mittels welchen die Dickschichtwiderstände kontaktiert werden, um deren Widerstandswerte zu messen, wobei eine Zweidraht- oder Vierdrahtmessung zum Einsatz kommt. Es ist eine Schalteinheit, bestehend aus mehreren steuerbaren Schaltern, vorhanden, mittels derer jede der Kontaktnadeln untereinander verschaltbar ist, wobei jede Kontaktnadel an einer Anschluss-Stelle mit der Vorrichtung elektrisch oder mechanisch verbunden ist. The measurement system is used with thick film resistors [R] for use with laser trimming devices. A contact needle is used on specific points and the circuit may be operated in a two or four wire measurement process. Matrix units [SM1,SM2] allow switching between force and sense modes. Other switches [SV] allow change over fro two to four wire modes.
摘要附图：
