基本信息

• 发明名称： 【发明专利】 Method and instrument for detection of change of thickness or refractive index for a thin film substrate
• 申请日： 1970-08-20
• 申请号/专利号： US45549395
• 专利权人： MAUL DIANA M;SANDSTROM TORBJORN;STIBLERT LARS
• 申请人： BIOSTAR INC
• 分类号： G01N21/77
• 发明人/设计人： MAUL DIANA M;SANDSTROM TORBJORN;STIBLERT LARS
• 公开日/公告日： 1970.08.20
• 优先权号： G01N21/77
• 代理机构：
• 代理人：
• PCT申请号： 无
• PCT申请日期： 无
• PCT进入国家阶段日： 无
• 生物宝藏信息： 无
• 审查员： 无

摘要：An instrument configured and arranged to detect a change in thickness or refractive index of a thin film substrate. A method for optimizing the instrument and a method for detecting a change in thickness or refractive index of a thin film substrate.

摘要附图：